CDM充電デバイスのモデルテスターはいくらですか

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概要

ES 640充電デバイスモデル（CDM）試験システム、充電デバイスモデル（CDM）静電放電はマイクロエレクトロニクス回路故障のよくある原因である。低電圧でのCDM放電は、感度の高いデバイスを深刻に破壊したり、破壊したりする可能性があります。静電気を帯びた装置が金属表面に異なる電位で接触すると、通常このようなことが発生する。この静電放電は通常非常に速い立ち上がり時間を有する。

製品詳細

ES 640充電デバイスモデル（CDM）試験システム紹介：

1.説明

充電デバイスモデル（CDM）の静電放電は、マイクロエレクトロニクス回路の故障の一般的な原因である。低電圧でのCDM放電は、感度の高いデバイスを深刻に破壊したり、破壊したりする可能性があります。静電気を帯びた装置が金属表面に異なる電位で接触すると、通常このようなことが発生する。この静電放電は通常非常に速い立ち上がり時間を有する。

ES 640は自動化されたCDMテスターであり、すべての流行しているCDM試験方法を満たすことができ、電界誘導空気放電方法（FICDM）と接触放電（LI-CDM、CC-TLP、RP-CDM）方法をサポートする。本試験システムはコンピュータ、環境制御室、正確なXYZ運動制御システム、異なるタイプのCDMテスターヘッド、自動試験とデータ解析ソフトウェアを含む。

以下は、Thermo Scientific Orion 3 CDMテスタ、Hanwa HED-C 5000 Rなど、ESDEMC ES 640 CDMソリューションと他のソリューションとの比較です。

2.特徴

高解像度カメラ（最大3台）によるピン揃えが簡単

高解像度運動制御システム（ステップサイズ1µmまで）

複数のデバイスの一括テストを許可

申請中のCCDM方法はより良い再現性を有する

密閉された環境室は乾燥ユニットの効率を向上させる

再生乾燥ユニットを支持する（窒素ガス不要）

3.応用

パッケージおよびウェハレベル試験用の汎用CDMシステム

多くの流行しているCDM方法をサポート：

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002（FICDM）

AEC Q100-011 Rev-D（JS-002に準拠する）

AEC Q101-005 Rev-A（JS-002に準拠する）

ANSI/ESD SP5.3.3（LI-CCDM、需要vf-TLP）

CC-TLP（承認されるESDA SP、vf-TLPが必要）

弊社の申請におけるRP-CDM方法

お客様の要件に応じて非アクティブまたはカスタマイズされたソリューションを提供

ロボット帯電板モデル（CBM）と平板ESD試験カスタムサイズ

4.仕様

パラメータ	ES640-150	ES640-300型	単位	備考
XY試験面積	≥150X150	≥300X300	mm	プローブ移動面積、カスタマイズ可能
DUT面積	160X160	375X425	mm
帯電板面積	210X210	395X470	mm
Zストローク	≥50	≥150	mm
最小X、Y、Zステップ	100		nm
繰り返し機能のリセット	≤±6		ミクロメートル
テスト電圧範囲	±1～2000または4000		V	デフォルト2000 V、カスタマイズ可能
テスト電圧ステップ	1		V
テスト電圧精度	±1%±0.1V		%V
XY視野解像度	1920X1080		ピクセル
垂直視野解像度	2592X1944年		ピクセル
うんてんおんど	10～40		温度
運転湿度（RH）	10～80		%
電圧	120-240VAC、50/60Hz		VAC
N 2またはCDA圧力	10–120		PSI
N 2またはCDAピーク使用量	0.2		CFM	又は0.34 m 3 h
300 N 2箱平均使用量	~19		時間	持続的な@40 RH環境
乾燥剤の平均使用量	~24		時間	持続的な@40 RH環境

5.発注情報

番号	モデル	記述
ES 640帯電デバイスモデル（CDM）試験システム
1.1	ES640-150	汎用CDMプラットフォーム、150 X 150 mmテストエリア、2 kV
1.2	ES640-300型	汎用CDMプラットフォーム、300 X 300 mmテストエリア、2 kV
1.3	ES640-HC	空気放電方法のための湿度調整ユニット（ユーザは乾燥剤を繰り返し使用でき、N 2またはCDAの使用コストよりも低い）
1.4	ES640-CV4型	放電電圧を2 kVから4 kVに上げる
1.5	ES640-CPC	200 X 300 DUTを固定するためのフィールドボードのカスタマイズ
1.6	ES640-VP1型	DUTを固定するための真空ポンプ（オプション、ソフトウェア制御）
1.7	ES640-VP2型	高圧チップクリーニングユニット（オプション、ソフトウェア制御）
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018規格関連構成（AEC _ Q 100-011 D、AEC _ Q 101-005 Aを含むすべてこの規格に準拠）
2.1	ES640-JS002型	JS 002放電ユニット
2.2	ES640-JS002-C型	JS 002/C 101キャリブレーションディスク（小皿と大皿）
2.3	ES640-JS002-P1型	JS 002はPogo Pin#1（直径0.35 mm）の代わりに使用可能
非アクティブ化されたAEC標準関連構成（新規設計には推奨されない）ES 640充電デバイスモデル（CDM）試験システム

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