RC-02 B解像度試験カードX線解像度試験カードは、X線システムの解像度を測定し、ミクロンおよびナノ焦点におけるX線システムの画像品質を保証するために使用される非破壊検査機器、JIMA解像度試験カードを含む各種検査機器に注目することに力を入れている。
JIMA（日本検査機器メーカー協会）は、非破壊検査機器を含む各種検査機器に注目し、JIMA解像度テストカード，
ミクロンおよびナノ焦点におけるX線システムの画像品質を保証するために、X線システムの解像度を測定するために使用される。
ジマRT RC-02B解像度テストカード保護ボックスに封入されています
ケースの外形寸法（W×D×T）：40×30×15 mm
チップサイズ（W×D×T）：5×5×0.06 mm
パターンレイアウト：Lタイプ
線/空間寸法：16種類の仕様パターン、
0.4μm、0.5μm、0.6μm、0.7μm、0.8μm、0.9μm、1.0μm、1.5μm、
2.0μm、3.0μm、4.0μm、5.0μm、6.0μm、7.0、10.0μm、15.0μm
JIMA RT RC-04 X線解像度テストカード
ジマRT RC-05解像度テストカード
![分辨率测试卡]()
ジマRT RC-02B解像度テストカード,X線解像度テストカード保護ボックスに封入されています
ケースの外形寸法（W×D×T）：40×30×3 mm
チップサイズ（W×D×T）：8×8×0.2 mm
パターンレイアウト：Tタイプ（3-10μm）
I 型 （15〜50μm）
線/空間寸法：16種類の仕様パターン、
3μm、4μm、5μm、6μm、7μm、9μm、10μm（T型）
15μm、20μm、25μm、30μm、35μm、40μm、45μm、50μm（私は型)
![分辨率测试卡]()
![分辨率测试卡]()
ジマRT RC-05X線解像度テストカード,ジマRT RC-04解像度テストカード
テストカードは保護ボックスに封入されている
ケースの外形寸法（W×D×T）：40×30×5 mm
チップサイズ（W×D×T）：5×5×0.015 mm
パターンレイアウト：Tタイプ
線/空間寸法：32種類の仕様パターン、
0.1μm、0.15μm、0.2μm、0.25μm、0.3μm、0.35μm、0.4μm、0.5μm、0.6μm、0.7μm、0.8μm、
0.9μm、1.0μm、1.5μm、2.0μm、3.0μm、4.0、5.0μm、6.0μm、7.0μm、8.0μm、9.0μm、10.0μm、
ジマ解像度テストカード,JIMA RT RC-02 X線解像度テストカード
ジマRT CT-01解像度テストカード（三次元CTシステムの分解能試験専用）
RT RC-02B 型解像度テストカード保護ボックスに封入されています
パターンレイアウト：Tタイプ
線/空間寸法：5種類の仕様パターン、
3μm、4μm、5μm、6μm、7μm
SAG：RT RC-02 B、RT RC-02 Bテストカード、RC-02 Bテストカード、JIMA RT RC-02B,解像度テストカード,JIMA X線解像度テストカード
