-
メール
13590138264@139.com
-
電話番号
13421819662
-
アドレス
深セン宝安区松岡鎮大田洋南一路1号世峰科学技術園B棟
深セン市富易達計器有限公司
13590138264@139.com
13421819662
深セン宝安区松岡鎮大田洋南一路1号世峰科学技術園B棟
温度急速変化試験箱/概要:
この温度急速変化試験箱は深セン市富易達計器有限公司が全過程で製造・生産した良質急速温度変化試験箱であり、この急速温度変化試験箱は同類の急速温度変化試験箱で中性価格比が非常に顕著である。また、広東地区(例えば深セン、東莞、仏山、恵州、江門、順徳、広州、中山、肇慶、掲陽)の急速温度変化試験箱の特徴に対して高性価格比を持つ急速温度変化試験箱製品を発売し、顧客のこの急速温度変化試験箱に対する需要を大いに満たした。フイダ計器有限会社が生産した急速温度変化試験箱はすでに各分野で立脚し、従来のより優れた急速温度変化試験箱を構築して、各業界の本急速温度変化試験箱に対する需要を満たしている。北京、陝西、湖南、広西、江蘇、江西、河南、河北、湖北、重慶などの各都市の急速温度変化試験箱の中で、すでに多くの部分が富易達計器有限公司が生産した急速温度変化試験箱であり、さらに顧客のためにカスタマイズした急速温度変化試験箱であり、さらに急速温度変化試験箱の全国市場における占有率を強固にした。この高速温度変化試験箱は、現在の富易達計器有限公司が高速温度変化試験箱の分野で非常に成熟した高速温度変化試験箱製品となっている。
温度急速変化試験箱/製品型番仕様:(標準仕様)
型番仕様 |
作業室寸法(mm)DWH |
テス80 |
400×400×500 |
テス100 |
400×450×550 |
テス150 |
500×500×600 |
テス225 |
500×600×750 |
テス408 |
600×800×850 |
テス500 |
800×800×800 |
テス800 |
800×1000×1000 |
テス1000 |
1000×1000×1000 |
特殊サイズは電話で注文してください!非標準カスタマイズには設計費などの他の費用は加算されません!
温度急速変化試験箱/主要技術指標:
1、温度範囲:-70℃、-40℃、-20℃~+100(150)℃
2、温度変動度:±0.5℃
3、温度偏差:≤2℃
4、昇降温度速度:3~10℃/分(全行程平均)
温度急速変化試験箱/設備用途:
その急速温度変化試験箱主に電子、電気工学製品、およびその元のデバイスに対して和その他の材料は高温、低温、急速な温度変化の環境下での貯蔵、輸送、使用時の適応性試験。その急速温度変化試験箱主に製品に対して国家基準の要求或いはユーザーの自主的な要求に従って、低温、高温、高速温度変化条件の下で、製品の物理及びその他の関連特性に対して環境シミュレーションテストを行い、テスト後、検査を通じて、製品の性能を判断し、製品の設計、改善、鑑定及び出荷検査のために予定の要求を満たすことができるかどうかを判断する。
温度急速変化試験箱/構造特徴:
その急速温度変化試験箱主に箱体、冷凍システム、加熱システム、空気循環システム及び制御システムから構成される。急速温度変化試験箱のタンクハウジング一般的冷間圧延鋼板を用いた静電射出成形、またはお客様のニーズに合わせて良質なステンレス板を採用する、内胆均(きん)上質ステンレス板を採用できばえ箱ドアの中間には大面積の観察窓が設置され、観察灯が配置されており、ユーザーは試料の試験状況をはっきり見ることができるようになっている。急速温度変化試験箱の外形は全体的に美しく上品である。急速温度変化試験箱の保温層は硬質ポリウレタン発泡に少量の超微細グラスウールを加え、強度が高く、保温性が良いなどの特徴がある。その急速温度変化試験箱主な温度制御器はインテリジェントデジタル温度制御器を採用する(中国台湾産または日本富士、OYOなどの温度制御器)、急速温度変化試験箱制御の安定性を大幅に保証。急速温度変化試験箱の冷凍システムは全閉鎖を採用するフランス・タイカンコンプレッサーユニットスタック低温回路システム、全自動制御と安全保護協調システム。急速温度変化試験箱の加熱にはステンレス鋼を用いるベルト放熱フィンの優れた品質ヒートパイプ、より効率的、より優れたパフォーマンス。
この温度きゅうそくへんかしけんばこ次のいずれかの基準または結合に基づいて製造されます。
GB 10589-89低温試験箱技術条件
GB 10592-89急速温度変化試験箱技術条件
GB 11158-89高温試験箱技術条件
GB/T 5170.2-1996電工電子製品環境試験設備基本パラメータ検定方法温度試験設備
GB 2423.1-89電工電子製品基本試験規程試験A:低温試験方法
GB 2423.2-89電工電子製品基本試験規程試験B:高温試験方法
GB 2424.1-89電工電子製品基本環境試験規程高温低温試験ガイドライン
