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qeservice@enli.com.tw
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電話番号
18512186724
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アドレス
上海市浦東新区祖沖の道1505弄100号3棟6 C室
光焱科技株式会社
qeservice@enli.com.tw
18512186724
上海市浦東新区祖沖の道1505弄100号3棟6 C室
QE-RX太陽電池効率損失分析計 の特色は以下の通り:

*高精度かつ低不確実性
QE−RXの較正はNISTトレーサビリティであり、これによりQE−RXの試験データの不確実性は他のEQE試験システムよりも低くなる。また、QE-RXはEnlitechによって開発され、Enlitechは10年のISO/IEC 17025認証を持つキャリブレーションラボです。これにより、QE−RXによるSi太陽電池の試験結果は非常に正確になった。QE-RXを使用すると、信頼できる結果が得られます。

*コンパクトな構造ながら多様な機能
QE−RXは、電気信号収集位相ロック増幅器を含む80 cmx 80 cmx 60 cmの本体内にすべての光学的および機械的構成要素を集積する。そのコンパクトなサイズに限らず、QE−RXは依然として太陽電池のEQE、スペクトル応答、反射率、IQEを含む様々な試験データを提供している。コンパクトで多機能なのがQE-RXの強みです。

*電力損失解析
QE-RXはSQ-JVFLソフトウェアと結合し、Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss、バンドギャップ計算を含む最も完全な分析機能を提供することができる。これらのパラメータは生産量制御と効率提案の重要な要素であり、これによりQE-RXは光起電力業界のパートナーになる。
・PESC、PERC、PERL、HJT、バックコンタクト、両面、およびTOP-Conシリコン太陽電池用
・QE(量子効率)、PV−EQE(外部量子効率)、IPCE(入射光子−電子変換効率)、SR(スペクトル応答)、IQE(内部量子効率)及び反射率に関するデータを提供する。
・構造がコンパクトで再現性が99.5%を超える。
・波長範囲:300 ~ 1200 nm
.Jsc損失解析と報告(SQ-JVFLAソフトウェアを使用)。
・職業損失分析と報告(SQ-JVFLAソフトウェアを使用)。
.FF損失解析とレポート(SQ-JVFLAソフトウェアを使用)。
・提供されたEQE不確定度評価報告書とISO/IEC 17025によって認証された品質制御は、定期刊行物論文の投稿に使用できる。
・多様化及びカスタマイズされたサンプル試験装置。


QE-RX太陽電池効率損失分析計使用可能:
*PERC/HJT/TOP-Con太陽電池効率-損失分析
*IEC-60904-8スペクトル応答測定
*IEC-60904-7不整合係数計算
*IEC-60904-1 MMF補正
*シリコン太陽電池の加工品質制御
*シリコン太陽電池のバンドギャップ測定